NF EN 60749-2
Remplace l'article 3 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002
NF EN 60749-2
décembre 2002
Norme
En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 2 : basse pression atmosphérique
Le présent document décrit l'essai de basse pression atmosphérique appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.
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Informations complémentaires
Informations générales
Collections
Normes nationales et documents normatifs nationaux
Date de publication
décembre 2002
Nombre de pages
15 p.
Référence
NF EN 60749-2
Codes ICS
31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général
Indice de classement
C96-022-2
Numéro de tirage
1 - 24/01/2003
Parenté internationale
Parenté européenne
EN 60749-2:2002
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Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 2 : basse pression atmosphérique
Le présent document décrit l'essai de basse pression atmosphérique appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.
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