NF EN 190000

NF EN 190000

avril 2013
Norme Annulée

Spécification générique : circuits intégrés monolithiques

Le présent document contient les termes, définitions, symboles, méthodes d'essais et autres prescriptions applicables aux (micro) circuits intégrés (tels qu'ils sont définis dans la NF EN 60747).

Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

avril 2013

Nombre de pages

264 p.

Référence

NF EN 190000

Codes ICS

31.200   Circuits intégrés. Micro-électronique

Indice de classement

C86-020

Numéro de tirage

1 - 30/04/2013

Parenté européenne

EN 190000:1995
Résumé
Spécification générique : circuits intégrés monolithiques

Le présent document contient les termes, définitions, symboles, méthodes d'essais et autres prescriptions applicables aux (micro) circuits intégrés (tels qu'ils sont définis dans la NF EN 60747).
Normes remplacées (2)
NF C86-020-1
juillet 1991
Norme Annulée
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité circuits intégrés monolithiques - Spécification générique - Première partie

Cette norme comporte la terminologie, les spécifications de contrôle de la qualité, les méthodes d'essai et de mesure pouvant être appliquées à l'ensemble des circuits intégrés monolithiques. Les spécifications intermédiaires font l'objet d'une série de documents particuliers qui se rattachent tous à la spécification générique, donc à la présente norme. Il a été ajouté à la spécification CECC 90 000 une annexe permettant aux lecteurs français qui ne disposeraient pas des publications IEC et ISO citées, de retrouver les références des normes françaises identiques ou équivalentes. Dans ce dernier cas, il n'y a pas de divergences sur le fond. Afin que le texte de cette norme soit une reproduction rigoureuse de la spécification CECC, les dispositions typographiques adoptées pour ce document ont été conservées ; en particulier les symboles littéraux ont été imprimés en caractères romains (droits). Il a été vérifié que le non-respect des principes normatifs n'entraînait pas de confusion.

NF C86-020-2
juillet 1991
Norme Annulée
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Circuits intégrés monolithiques - Spécification générique - Deuxième partie

Cette norme comporte la terminologie, les spécifications de contrôle de la qualité, les méthodes d'essai et de mesure pouvant être appliquées à l'ensemble des circuits intégrés monolithiques. Les spécifications intermédiaires font l'objet d'une série de documents particuliers qui se rattachent tous à la spécification générique, donc à la présente norme. Il a été ajouté à la spécification CECC 90 000 une annexe permettant aux lecteurs français qui ne disposeraient pas des publications IEC et ISO citées, de retrouver les références des normes françaises identiques ou équivalentes. Dans ce dernier cas, il n'y a pas de divergences sur le fond. Afin que le texte de cette norme soit une reproduction rigoureuse de la spécification CECC, les dispositions typographiques adoptées pour ce document ont été conservées ; en particulier les symboles littéraux ont été imprimés en caractères romains (droits). Il a été vérifié que le non-respect des principes normatifs n'entraînait pas de confusion.

Sommaire
  • PREAMBULE
    5
  • PREFACE
    5
  • 1 DOMAINE D'APPLICATION
    5
  • 2 GENERALITES
    5
  • 2.1 Ordre de priorité
    5
  • 2.2 Documents applicables
    5
  • 2.3 Unités, symboles et terminologie
    6
  • 2.4 Valeurs normalisées et préférentielles
    6
  • 2.5 Marquage du composant et de son emballage
    7
  • 2.6 Identification à la commande
    10
  • 3 PROCEDURES D'ASSURANCE DE LA QUALITE
    10
  • 3.1 Étape initiale de fabrication et sous-traitance
    10
  • 3.2 Procédures d'associativité
    11
  • 3.3 Procédures d'homologation
    17
  • 3.4 Contrôle de conformité de la qualité
    20
  • 3.5 Agrément de savoir-faire
    22
  • 3.6 Exigences de contrôle
    22
  • 3.7 Maîtrise statistique des procédés (SPC)
    31
  • 4 PROCEDURES D'ESSAIS ET DE MESURES
    31
  • 4.1 Conditions normales d'essai
    31
  • 4.2 Examen visuel
    32
  • 4.3 Dimensions
    33
  • 4.4 Immersion dans les solvants de nettoyage
    33
  • 4.5 Mesures électriques
    34
  • 4.6 Essais climatiques et mécaniques
    53
  • 4.7 Définition des axes pour les essais mécaniques
    78
  • 4.8 Essais d'endurance électrique
    79
  • 4.9 Procédures d'essais accélérés
    81
  • 4.10 Sélection
    85
  • ANNEXE A . Examen visuel interne et méthodes de substitution associées
    93
  • ANNEXE B : Comparaison entre les documents IEC et CECC concernant les essais climatiques, mécaniques et d'endurance électrique
    151
  • ANNEXE C . Agrément de savoir-faire
    155
  • ANNEXE D : Guide pour les rédacteurs de spécifications de CQC
    171
  • ANNEXE E : Guide d'application pratique des procédures d'associativité décrites au paragraphe 3.2
    173
  • ANNEXE F : Maîtrise statistique des procédés (SPC)
    177
  • ANNEXE G . EQML pour circuits intégrés
    187
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