IEEE/ANSI N 42.31

IEEE/ANSI N 42.31

janvier 2003
Norme En vigueur

American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation / Note: Approved 2003-02-20 ANSI

Informations générales

Collections

Normes américaines IEEE

Date de publication

janvier 2003

Nombre de pages

40 p.

Référence

IEEE/ANSI N 42.31

Codes ICS

17.240   Mesurage des rayonnements
31.080.01   Dispositifs à semi-conducteurs en général
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