NF EN IEC 62969-4

NF EN IEC 62969-4

August 2018
Standard Current

Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 4 : evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors

Le présent document spécifie une méthode d'essai par injection directe de défaut pour l'interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l'interface de communication du véhicule.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

August 2018

Number of pages

23 p.

Reference

NF EN IEC 62969-4

ICS Codes

31.080.99   Other semiconductor devices

Classification index

C96-069-4

Print number

1

International kinship

IEC 62969-4:2018

European kinship

EN IEC 62969-4:2018
Sumary
Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 4 : evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors

Le présent document spécifie une méthode d'essai par injection directe de défaut pour l'interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l'interface de communication du véhicule.
Table of contents
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  • 1 Domaine d'application
  • 2 Références normatives
  • 3 Termes, définitions et termes abrégés
  • 4 Evaluation et essais
  • 5 Paramètres de l'essai de perturbation
  • Annexe A (informative) Description détaillée des éléments perturbateurs
  • Bibliographie
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